使用恒溫恒濕試驗箱的三種標(biāo)準(zhǔn)方法
發(fā)布人:蘇州力高 瀏覽:640次 更新時間:2014-03-25 15:08:20
一:高溫:
簡介:本標(biāo)準(zhǔn)敘述的高溫試驗適用于散熱和非散熱兩類試驗樣品。本高溫試驗的目的僅限于確定件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在高溫環(huán)境條件下使用或貯存的適應(yīng)性。本高溫試驗不能用來評價試驗樣品的耐溫度變化性和在溫度變化期間的工作能力。在這種情況下。應(yīng)當(dāng)采用試驗N:溫度變化試驗方法。高溫試驗方法分為:非散熱試驗樣品高溫試驗:試驗Ba:溫度突變;試驗Bb,溫度漸變。散熱試驗樣品高溫試驗:試驗Bc:溫度突變;試驗Bd:溫度漸變。本試驗方法通常用于條件試驗期間能達到溫度穩(wěn)定的試驗樣品。
二:低溫:
簡介:本標(biāo)準(zhǔn)所涉及的低溫試驗適用于非散熱和散熱兩類試驗樣品。對于非散熱試驗樣品,試驗Aa和Ab不違背早期發(fā)行的標(biāo)準(zhǔn)。本標(biāo)準(zhǔn)僅限于用來考核或確定電工、電子產(chǎn)品(包括件、設(shè)備及其他產(chǎn)品)在低溫環(huán)境條件下貯存和(或)使用的適應(yīng)性。
三:恒定濕熱方法:
簡介:本標(biāo)準(zhǔn)等同采用IEC60068-2-78:2001,規(guī)定了電工電子產(chǎn)品恒定濕熱試驗的嚴(yán)酷等級,適用于散熱和非散熱樣品。本標(biāo)準(zhǔn)適用于確定電工電子產(chǎn)品、元件或設(shè)備在高濕度的條件下使用、儲存和運輸時的適應(yīng)性。